Introduction à la microscopie électronique en transmission

Ce livre propose une introduction claire et accessible à la microscopie électronique en transmission (MET). Il s'agit d'une approche basique de cette méthode de caractérisation des matériaux en général et des solides cristallins en particulier, en consacrant une part importante à l'imagerie des dislocations et autres défauts des structures cristallines. L'application de la MET à la physique du solide a connu un essor considérable avec l'avènement de technologies toujours plus novatrices dans l'étude de la matière condensée. Ces performances nécessitent une approche théorique très élaborée parfois inspirée de celle des rayons X. C'est notamment le cas pour une application courante de cette microscopie : l'étude des défauts cristallins qui jouent un rôle primordial dans les propriétés physiques des matériaux. L'apprentissage dans le domaine de la caractérisation des matériaux nécessite une approche graduelle, qui évolue en fonction des avancées constantes des performances des microscopes